Lugar de origen: | Wuhan, China |
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Nombre de la marca: | Wuhan Siwer Optics |
Cantidad de orden mínima: | 2 piezas |
Precio: | 25-200USD/piece |
Detalles de empaquetado: | papel 1.Tissue. película de empaquetado de la espuma 2.Plastic. caja del cartón 3.Hard con el llenad |
Tiempo de entrega: | 4-7 semanas |
Condiciones de pago: | T / T, Western Union |
Capacidad de la fuente: | 500 piezas / mes |
Materiales: | silicio | Tolerancia del tamaño: | +/-0.1mm |
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Chaflán: | 0.2-0.5m m | Calidad superficial: | 40/20 |
exactitud superficial: | Lambda/2 en 25.4m m | Centration: | Minuto de 3 arcos |
Recubrimiento: | AR AR@3-5um | Gama de tallas: | 5-300m m |
Uso: | Lente protegida sistema de Infared | ||
Alta luz: | optical filter lens,optical glass lens |
El silicio (Si) es uno de los minerales más duros y de los materiales ópticos disponibles para el uso en el NIR (el 1µm) para los cerca de 6µm. El silicio óptico de la calidad se dopa generalmente (5 a 40 ohmios cm) para prevenir bandas de absorción dentro del waveband de la transmisión. El silicio tiene un índice de refracción más bajo que el germanio y tiene una densidad más baja que haga para los diseños ópticos menos pesados.
El silicio es ideal para el uso como ventanas en el waveband de 3 a de los 5µm (MWIR) y como substrato para los filtros ópticos. Este waveband (3 a los 5µm) es importante para la detección de fuentes que irradian en una temperatura del cuerpo negro de 700K, tal como el flash de bozal de los armas, tales como rifles de francotirador y pedazos del mortero. Cada componente es probado individualmente por nuestros técnicos altamente expertos en nuestro laboratorio avanzado de la metrología para asegurar a toda la reunión de los componentes nuestros estándares de alta calidad. Su transmisión es el cerca de 50% dentro del 1 a los 6µm y sobre los 50µm, que significarán que las capas de antireflejos están requeridas para mejorar la transmisión.
Material | Silicio |
Gama de la capa de AR | 3-5um |
Tolerancia del diámetro | +0.0/-0.1 milímetros |
Tolerancia del grueso | ±0.1 milímetro |
Tolerancia de la longitud focal | el ±2% |
Calidad superficial | 60-40 Rasguño-empuje |
Llanura superficial (Lado de Plano) |
λ/2 en 633nm |
Powerc superficial esférico (Lado convexo) |
1.5λ en 633nm |
Irregularidad superficial (Pico al valle) |
λ/2 en 633nm |
Centration | <3 arcmin=""> |
Abertura clara | >Ø10.16 milímetro (” lentes Ø1/2) >Ø20.32 milímetro (” lentes Ø1) |
Longitud de onda del diseño | μm 10,6 |
Fórmula química | Si |
Peso molecular | 28,09 |
Clase cristalina | Cúbico |
Constante del enrejado, Å | 5,43 |
Densidad, g/cm3 en 293 K | 2,329 |
Constante dieléctrica para 9,37 x 109 herzios | 13 |
Punto de fusión, K | 1690 |
Conductividad termal, con (m K) | |
en 125 K | 598,6 |
en 313 K | 163 |
en 400 K | 105,1 |
Extensión termal, 1/K | |
en 75 K | -0,5 x 10-6 |
en 293 K | 2,6 x 10-6 |
en K 1400 | 4,6 x 10-6 |
Calor específico, caloría (g K) | |
en 298 K | 0,18 |
en K 1800 | 0,253 |
Temperatura de Debye, K | 640 |
Bandgap, eV | 1,1 |
Solubilidad en agua | Ninguno |
Dureza de Knoop, kg/mm2 | 1100 |
Dureza de Mohs | 7 |
Módulo de Young, GPa | 130,91 |
Módulo del esquileo, GPa | 79,92 |
Módulo a granel, GPa | 101,97 |
El ratio de Poisson | 0,28 |